JY/T 009-1996  轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用多品體 X射線衍射儀在室溫、高、低溫條件下對(duì)各種多晶材料進(jìn)行物相組成的定性分析、物相組成的定量分析、晶粒的大小（范圍約為1nm-200nm）及晶粒內(nèi)點(diǎn)陣畸變的測(cè)定。屬立方晶系晶體的點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定的一般方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 009-1996

發(fā)布日期：1997-01-23

實(shí)施日期：1997-04-01

廢止日期：暫無

頒發(fā)部門：國家教育委員會(huì)

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種多品體材料，如金屬與合金、礦物與土壤、陶瓷與建筑材料、有機(jī)與無機(jī)化合物、藥物與聚合物及環(huán)保試樣等。主要適用于衍射儀法，但可參照使用于照相法

權(quán)威：CMA&CNAS資質(zhì)、具有法律效力

可靠：國科控股旗下獨(dú)立第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

精準(zhǔn)：高精尖儀器設(shè)備、專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)

全面：涉及各行業(yè)產(chǎn)品及環(huán)境領(lǐng)域業(yè)務(wù)

中科檢測(cè)是專業(yè)的第三方檢驗(yàn)服務(wù)機(jī)構(gòu)，擁有一支高素質(zhì)的員工隊(duì)伍，在面有著自身的能力、資源和人才積累。通過我們專業(yè)化的檢驗(yàn)服務(wù)，我們將會(huì)是您最優(yōu)質(zhì)的的選擇