透射電子顯微鏡(縮寫TEM)，簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角 散射。

透射電子顯微鏡的基本工作原理是利用電子束穿透物質，根據物質對電子束的散射和透射情況，結合樣品的化學成分和結構特點，生成可以被人類觀察的圖像。中科檢測具備透射電鏡測試資質能力，可以出具CMA、CNAS檢測報告。

1、成分分析：透射電鏡可以通過觀察透射電子的吸收和散射情況，來確定樣品的成分。利用不同化學物質對電子的散射和吸收的差異，可以獲得樣品的能譜圖像，進而分析樣品中的元素種類和含量。

2、形貌觀察：透射電鏡還可以用來觀察化學物質的形貌。通過調節電子束的聚焦和透射模式，可以觀察到樣品的表面形貌以及微觀結構，如納米顆粒、薄膜厚度等。

3、結構研究：透射電鏡可以用來研究材料的晶體結構和外形。通過觀察透射的電子的衍射圖案，可以確定晶體的晶胞參數、晶面指數等信息。同時，透射電鏡還可以觀察到有關晶格缺陷、原子排列和晶界等結構信息。

 GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區電子衍射分析方法

 GB/T 42208-2022 納米技術 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法

 YS/T 1623-2023 鋁合金時效析出相的檢驗 透射電鏡法

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