α、β表面污染測量主要用于各種物質(zhì)的低水平總α、總β的放射性比活度的精確測量。α、β表面污染測量用于環(huán)境保護，對水、空氣、土壤、建筑物中的放射性檢測；用于衛(wèi)生防疫，對飲用水、食品、蔬菜、奶類及奶制品中的放射性檢測；用于建材檢驗，對花崗石、大理石、砂石、煤渣磚、礦渣磚等放射性檢驗；用于核電及其他核設(shè)施排出物、大氣、環(huán)境監(jiān)測；其它還可用于輻射防護、保健物理、生物、農(nóng)學、考古、地質(zhì)等。  

中科檢測開展α、β表面污染測量服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認證。

直接法：用儀器在待測物(場所）的表面適當距離進行測量。通過同樣測試條件下的已知源（與被測點可能污染核素相同或其發(fā)射的β射線能量相近）活度來確定表面污染測量值。（定量)
間接法：通過搽拭或去污等方式將待測物（場所)一定面積上的污染物轉(zhuǎn)移至實驗室固定的儀器設(shè)備進行測量。需要確定2個因子：搽拭面積、轉(zhuǎn)移（去污)系數(shù)，才能根據(jù)固定實驗設(shè)備測得值計算表面污染值。（定性是否為表面污染、半定量)

GB/T 14056.1-2008 表面污染測定 第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15MeV)和α發(fā)射體
GB/T 5202 輻射防護儀器 a、β和a/β（β能量大于60keV)污染測量儀與監(jiān)測儀
GB/T 12128 用于校準表面污染監(jiān)測儀的參考源β發(fā)射體和a發(fā)射體
GB 18871 電離輻射防護與輻射源安全基本標準