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進行電子產品高低溫老化測試的原因
發布時間：2021-12-29 251
　　伴隨著電子技術的發展，電子產品越來越集成化，結構更加精細了，工序越來越多，制造工藝越來越復雜，這樣在給生產帶來潛在的缺陷。電子產品在生產與制造中，由于設計不合理、原材料或工藝措施方面的原因而導致的產品質量問題通常有兩類：
 
　　第一類是產品的性能參數未能達到標準，生產的產品達不到使用要求；
 
　　第二類是普通檢測手段無法檢測到的潛在缺陷，而需要在使用過程中慢慢地暴露出來，像硅片表面污染、組織不穩定、焊接空洞、芯片與管殼熱阻匹配不好等等。
 
 
高低溫老化測試

 
　　通常這類缺陷需要在元器件工作于額定功率及正常工作溫度下運行大概1000小時才能完全激活(暴露)。很明顯，對每只元器件測試1000個小時是不現實的，因此必須對其施加熱應力與偏壓，比如進行高溫功率應力試驗，用來加速這種缺陷的提早暴露。
 
　　也就是說，對電子產品施加熱、電、機械或多種綜合的外部應力，模擬惡劣的工作環境，消除加工應力和殘余溶劑等物質，令產品提前出現潛伏故障，盡早使產品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠的穩定周期。
 
　　經過高溫老化能夠使元器件的缺陷、焊接、裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進行電氣參數測量，對失效或變值的元器件進行篩選剔除，使產品盡可能早期的失效消滅于正常使用中，從而確保出廠的產品可以經受得起時間的考驗。
 
　　以上就是中科檢測為大家介紹的電子產品高低溫老化測試的原因，希望對大家有所幫助。
 
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